激光粒度測試儀是一種性能優良的粒度分布儀，它采用進口的半導體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設計的由大規模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用蠕動循環泵和微量樣品池兩種進樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數據處理方式；采用高精度的數據傳輸與處理電路等一系列先進的技術和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復性好、操作簡便等突出特點，是集激光技術、計算機技術、光電子技術于一體的新一代粒度測試儀器。

　　激光粒度測試儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。

　　激光粒度測試儀對中調整方法：

　　對中調整是通過調整儀器正面，測試窗口下面的2個“對中旋鈕”來改變“傅里葉透鏡”的偏移位置，從而使得激光打在0號探測單元上。

　　調整對中旋鈕，激光會相應發生偏移，因此我們需要隨時觀察“背景光能分布”窗口上光柱的運動情況。

　　調整對中旋鈕，使得激光向0環方向偏移上旋鈕向左偏移向上偏移向右偏移激光下旋鈕調整“下旋鈕”方法與“上旋鈕”的一致。

　　當“下旋鈕”調整激光接近0號探測單元，0環附近的1環2環都很高此時，說明激光已經接近0號探測單元。繼續向逆時針方向旋轉，如果發現光柱反而遠離0環此時應略微回調。

　　向下偏移調整對中時，我們可以先調上旋鈕，或者下旋鈕。選擇其中一個，并邊調邊觀察“背景光能分布”窗口。

　　先調整“上旋鈕”，逆時針方向旋轉，如果發現光柱向左運動說明激光正向著0環位置偏移。調整到一定位置時，由于激光已經處于zui接近0號探測單元，如果繼續調整，激光反而遠離0號探測單元，光柱反而會向右運動或者光柱消失，調過頭了。此時應該略微回調，讓光柱恢復到之前zui接近0環的位置。